Induktivitätsdekade mit Schiebeschalter hohe Genauigkeit, für Fertigungsprüfung, Lehrmittelbereich, Forschung und Entwicklung

Induktivitätsdekade mit Schiebeschalter - hohe Genauigkeit, für Fertigungsprüfung, Lehrmittelbereich, Forschung und Entwicklung

Labor-Dekade mit Schiebeschalter für Fertigungsprüfung, Lehrmittelbereich, Forschung und Entwicklung. Schnell und anwender - die übersichtliche Anordnung der Schiebeschalter ermöglicht das Einstellen aller Werte zwischen 10 µH bis 111, 1 mH - also 4 Dekaden - und dies hochgenau in 10 µH Schritten. Die hohe Messgenauigkeit beträgt hierbei 5 % bei 1 kHz Testfrequenz Das platzsparende Kunstoffgehäuse (140 mm x 190 mm x 80 mm) rt zudem eine einwandfreie Abschirmung. Anschluss über 4 mm Sicherheitsbuchsen

Induktivitätsdekade mit Schiebeschalter - hohe Genauigkeit, für Fertigungsprüfung, Lehrmittelbereich, Forschung und Entwicklung

Labor-Dekade mit Schiebeschalter für Fertigungsprüfung, Lehrmittelbereich, Forschung und Entwicklung. Schnell und anwender - die übersichtliche Anordnung der Schiebeschalter ermöglicht das Einstellen aller Werte zwischen 10 µH bis 111, 1 mH - also 4 Dekaden - und dies hochgenau in 10 µH Schritten. Die hohe Messgenauigkeit beträgt hierbei 5 % bei 1 kHz Testfrequenz Das platzsparende Kunstoffgehäuse (140 mm x 190 mm x 80 mm) rt zudem eine einwandfreie Abschirmung. Anschluss über 4 mm Sicherheitsbuchsen

Induktivitätsdekade mit Schiebeschalter - hohe Genauigkeit, für Fertigungsprüfung, Lehrmittelbereich, Forschung und Entwicklung

Labor-Dekade mit Schiebeschalter für Fertigungsprüfung, Lehrmittelbereich, Forschung und Entwicklung. Schnell und anwender - die übersichtliche Anordnung der Schiebeschalter ermöglicht das Einstellen aller Werte zwischen 10 µH bis 111, 1 mH - also 4 Dekaden - und dies hochgenau in 10 µH Schritten. Die hohe Messgenauigkeit beträgt hierbei 5 % bei 1 kHz Testfrequenz Das platzsparende Kunstoffgehäuse (140 mm x 190 mm x 80 mm) rt zudem eine einwandfreie Abschirmung. Anschluss über 4 mm Sicherheitsbuchsen

PEAKTECH 3290 - Induktivitätsdekade, 4-fach

Diese Dekade für Induktivitäten zeichnet sich durch ihre Langzeitstabilität aus und ist konzipiert für den Bereich der Ausbildung, Wartung und Fertigungsprüfung, sowie Forschung und Entwicklung. Das Gehäuse besteht aus schlagfestem ABS-Kunststoff und verwendet Schiebeschalter zum leichten Addieren und Subtrahieren der Ausgangswerte, sowie 4 mm-Sicherungsbuchsen für eine sichere Verbindung. Bereiche: 10 µH ... 111,1 mH (10 µH Schritte) in vier Dekaden Genauigkeit: 5% bei 1 kHz Testfrequenz max. Eingangsstrom: 100 mA DC/AC interne Restinduktivität: 0,6 µH Zubehör: Bedienungsanleitung Abmessungen (BxHxT): 140 x 190 x 80 mm Gewicht: 450 g

Induktivitätsdekade ~ 10μH bis 11.111H

Labor-Dekade mit Schiebeschalter für die Fertigungsprüfung, den Lehrmittelbereich, der Forschung und Entwicklung. Sie können alle Werte zwischen 10 μH bis 111,1 mH hochgenau in 10 μH Schritten einstellen und so schnell und anwenderfreundlich den gewünschten Wert erlangen. Das platzsparende Kunsstoffgehäuse sorgt für eine übersichtliche Anordnung der Drehschalter, wobei Prüfleitungen über 4mm Sicherheitsbuchsen angeschlossen werden.

PeakTech Spannungsprüfer PeakTech P 3290: Induktivitätsdekade ~ 10μH bis 11.111H, (1 St)

PeakTech Spannungsprüfer PeakTech P 3290: Induktivitätsdekade ~ 10μH bis 11.111H, (1 St)